JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡

型號(hào)：RT RC-05 類別： 質(zhì)控儀器 

X射線分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹：

JIMA RT RC-05 X射線分辨率測(cè)試卡
 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
 圖案布局：T型 （3-10μm）
 I 型 （15-50μm）
 線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
 15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)











 JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

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JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡

  公司是一家專業(yè)從事醫(yī)療檢測(cè)儀器,儀表,模體銷售和訂制的專業(yè)公司，公司可為科研、教育、航空、制造業(yè)等領(lǐng)域提供完整可靠地解決方案。